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ATE平台搭建与HS400测试流程

共计 30 章节
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01
ATE测试概述
ATE系统的基本概念 · 发展历程 · 在半导体行业中的应用
ATE测试概述
02
HS400芯片介绍
HS400芯片功能特性 · 测试挑战 · 测试规范解读
HS400芯片介绍
03
ATE硬件平台选型
主流ATE厂商及型号 · 性能指标对比 · 选型考虑因素
ATE硬件平台选型
04
测试机台（Tester）结构
数字通道 · 电源 · 射频模块等关键组件
Tester测试机台
05
探针台与分选机
探针卡 · 晶圆探针 · 封装测试Handler原理与选择
探针台分选机
06
测试头与接口板
DIB（Device Interfa… · 负载板（Load Board）设计要…
测试头接口板
07
测试系统软件架构
操作系统 · 测试程序框架 · 通信协议
测试系统软件架构操作系统
08
测试程序开发环境搭建
安装配置 · 项目结构 · 版本管理
测试程序开发环境…安装配置
09
测试向量生成
从仿真到测试向量的转换 · 波形格式 · 向量压缩
测试向量生成从仿真到测试向量…
10
时序与电平设置
建立时间 · 保持时间 · 电压摆幅
时序电平设置
11
DC参数测试
开路/短路测试 · 漏电流测试 · 电源电流测试
DC参数测试
12
功能测试
基于向量的功能验证 · 扫描链测试原理
功能测试基于向量的功能验…
13
HS400高速接口测试
DDR/LPDDR/SerDes接口…
HS400高速接口测试
14
信号完整性分析
反射 · 串扰 · 眼图
信号完整性分析反射
15
校准与去嵌
系统校准 · 探头去嵌 · S参数补偿
校准去嵌
16
测试模式与扫描链
JTAG · IEEE 1500 · 边界扫描
测试模式扫描链
17
内置自测试（BIST）
Memory BIST · Logic BIST · Analog BIST
BIST内置自测试
18
测试程序调试
常用调试手段 · 断点 · 波形查看
测试程序调试常用调试手段
19
测试数据采集与分析
ATE数据格式 · 良率统计 · 帕累托分析
测试数据采集分析
20
良率分析与提升
DFT反馈 · 工艺波动 · 测试边界调整
良率分析提升
21
测试时间优化
并行测试 · 向量压缩 · 测试流程精简
测试时间优化并行测试
22
多站点并行测试
同步机制 · 资源分配 · 负载均衡
多站点并行测试同步机制
23
测试系统维护
日常校准 · 故障排查 · 备件管理
测试系统维护日常校准
24
HS400读写时序验证
基于ATE的读写操作符 · 时序参数测量
HS400读写时序验证
25
HS400眼图测试
眼图模板 · 余量分析 · 误码率测试
HS400眼图测试
26
HS400抖动与噪声
随机抖动 · 确定性抖动 · 电源噪声测量
HS400抖动
27
ATE与设计交互（DFT）
可测性设计对ATE的影响 · ATPG与ATE衔接
ATEDFT
28
测试文档与报告
测试计划 · 测试报告模板 · 数据分析呈现
测试文档报告
29
案例实践
HS400完整测试流程一——晶圆测试…
案例实践HS400
30
案例实践
HS400完整测试流程二——封装测试…
案例实践HS400