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《MIPI D-PHY多Lane偏斜校准与时序验证》
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MIPI D-PHY多Lane偏斜校准与时序验证
共计 30 章节
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01
D-PHY Lane deSkew校准概述
为什么需要deSkew
D-PHY
Lane
02
MIPI D-PHY物理层基础
差分信号与低压摆幅
MIPI
D-PHY
03
Lane结构与数据通道
时钟lane与数据lane的关系
Lane
结构
04
Skew的来源分析
PCB布线差异 · 芯片工艺 · 温度电压
Skew
的来源分析
05
校准原理
发送端预加重与接收端延迟调整
校准原理
发送端预加重
06
校准模式与序列
D-PHY规范中的校准序列
校准模式
序列
07
HS-TX与LP-TX模式下的Skew差异
HS-TX与LP-TX模式下的Skew差… · 核心概念 · 实践要点
HS-TX
LP-TX
08
时钟恢复与数据采样窗口
时钟恢复与数据采样窗口 · 核心概念 · 实践要点
时钟恢复
数据采样窗口
09
眼图测试
观察Skew对眼图的影响
眼图测试
Skew
10
TDR/TDT测量
PCB走线延时差测量
TDR/TDT
测量
11
寄存器配置
D-PHY控制器中的DeSkew控制…
寄存器配置
D-PHY
12
相位延迟调整
数字延时链 vs 模拟延时
相位延迟调整
vs
13
初始校准流程
上电后第一次校准
初始校准流程
上电后第一次校准
14
在线校准与跟踪
环境变化时的自动调整
线校准
跟踪
15
误码率(BER)测试
验证校准效果
BER
误码率
16
DeSkew校准算法
最小均方误差法
DeSkew
校准算法
17
硬件实现方案
FPGA与ASIC的差异
硬件实现方案
FPGA
18
多Lane校准的同步策略
多Lane校准的同步策略 · 核心概念 · 实践要点
Lane
校准的同步策略
19
测试模式与外部测试设备
测试模式与外部测试设备 · 核心概念 · 实践要点
测试模式
外部测试设备
20
常见问题1
校准失败的原因分析
常见问题1
校准失败的原因分…
21
常见问题2
校准后仍有误码的排查
常见问题2
校准后仍有误码的…
22
常见问题3
温度漂移导致Skew变化
常见问题3
Skew
23
实战案例
基于某SoC的DeSkew调试过程
实战案例
SoC
24
仿真
使用IBIS模型预分析Skew
仿真
IBIS
25
脚本化校准
自动化测试与参数提取
脚本化校准
自动化测试
26
校准精度与性能权衡
校准精度与性能权衡 · 核心概念 · 实践要点
校准精度
性能权衡
27
与CCI/CSI等协议层的配合
与CCI/CSI等协议层的配合 · 核心概念 · 实践要点
CCI/CSI
等协议层的配合
28
低功耗模式下的校准策略
低功耗模式下的校准策略 · 核心概念 · 实践要点
低功耗模式下的校…
重点
29
未来趋势
D-PHY 2.0与C-PHY的De…
未来趋势
D-PHY
30
总结与最佳实践清单
总结与最佳实践清单 · 核心概念 · 实践要点
最佳实践清单
总结与最佳实践清…
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