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USB-IF电气测试项目详解

共计 30 章节

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USB-IF概述与电气测试标准

USB-IF组织简介 · USB规范体系 · 电气测试的重要性

USB-IF电气测试标准

USB Type-C连接器电气规范

Type-C接口引脚定义 · CC与VCONN · SBU/D+/D-

USB PD协议基础

PD消息类型 · 电源协商过程 · PPS与EPR

差分信号与共模噪声

差分信号原理 · 共模噪声来源 · 共模抑制比（CMRR）

差分信号共模噪声

眼图测试原理

眼图形成机制 · 眼图参数（眼高 · 眼宽

眼图测试原理眼图形成机制

抖动测量与分析

抖动定义 · 总抖动（TJ） · 随机抖动（RJ）

抖动测量分析

阻抗匹配与反射

特性阻抗 · 传输线反射 · TDR/TDT测试

阻抗匹配反射

眼图模板测试

眼图模板定义（Mask） · Mask margin · 一致性测试

眼图模板测试Mask

上升时间/下降时间测量

20%-80%与10%-90%标准 · 过冲/下冲 · 压摆率

上升时间下降时间测量

摆幅与共模电压

差分摆幅测量（Vdiff） · 共模电压（Vcm） · 静态/动态共模电平

摆幅共模电压

信号速率与时钟恢复

USB信号速率（480Mbps · 5Gbps · 10Gbps

信号速率时钟恢复

抖动分解（RJ、DJ、DDJ）

频谱法 · DUAL-DIRAC模型 · 确定性抖动子成分提取

电源完整性基础

USB VBUS供电参数 · 电压跌落/过冲/纹波 · 负载瞬态响应

电源完整性基础USB

噪声与纹波测试

开关噪声 · 地弹 · 噪声FFT分析

噪声纹波测试

负载瞬态响应

USB PD负载跳变测试 · 压摆率要求 · 电压回踩

负载瞬态响应USB

短路与过流保护测试

VBUS短路测试 · OCP点 · 故障恢复时间

短路过流保护测试

漏电流与绝缘测试

漏电流限制 · 绝缘电阻 · 高阻测量

漏电流绝缘测试

EMI产生机制 · 辐射发射 · 传导发射

辐射发射测试

USB差分线辐射 · 共模辐射 · 测试标准（CISPR 22/32）

辐射发射测试USB

传导发射测试

LISN原理 · CE等级 · USB数据线共模电流

传导发射测试LISN

抗扰度测试

ESD抗扰度 · EFT · 浪涌

抗扰度测试ESD

静电放电（ESD）测试

接触放电/空气放电 · HMM模型 · Type-C引脚ESD保护

ESD静电放电

热测试与可靠性

温度循环 · 热阻 · 最大电流热效应

热测试可靠性

USB 2.0电气测试

D+/D-信号电平 · 下垂测试 · 眼图模板

USB0电气测试

USB 3.x电气测试

Gen1/Gen2信号速率 · TX/RX均衡 · De-emphasis

USBx电气测试

USB4电气测试

40Gbps通道规格 · PAM3编码 · VOD/VMIN/VMAX

USB4电气测试

USB PD 3.1 EPR测试

Extended Power Ran… · AVS（Adjustable Vol… · 电流能力验证

测试设备介绍（示波器、TDR、BERT等）

实时示波器带宽与采样率 · 采样示波器 · TDR/TDT

测试自动化与数据记录

Python/TestStand控制… · SCPI命令 · 数据采集与报告生成

测试自动化数据记录

USB-IF认证流程与测试报告

认证申请流程 · 认证实验室 · 测试项目清单

USB-IF认证流程