VIP10
本课程属于：044-汽车电子可靠性测试标准与 车载软件与智能汽车 · 共 10 门相关课程，组合学习更完整。
查看所属VIP全部课程 →
← 返回所属目录 咨询 / 购买

AEC-Q100车规芯片可靠性测试与认证

共计 30 章节
点击此处阅读海量试读课程：100+行业、1000+细分领域
01
AEC-Q100概述
标准背景 · 适用范围 · 认证意义与行业影响
AEC-Q100标准背景
02
测试流程总览
AEC-Q100认证全生命周期流程图 · 关键节点与交付物
测试流程总览AEC-Q100
03
温度等级与工作条件
Grade 0-3定义 · 温度循环范围 · 电压应力条件
温度等级工作条件
04
Pre/Post-Test电性测试
测试条件 · 参数漂移判定 · ATE测试策略
Pre/Post-Tes…电性测试
05
高温工作寿命测试(HTOL)
测试条件 · 加速模型(Arrhenius) · 失效判据
HTOL高温工作寿命测试
06
早期寿命失效测试(ELFR)
测试目的 · 动态/静态偏置 · 样本量计算
ELFR早期寿命失效测试
07
温度循环测试(TCT)
测试条件 · 腔体结构 · 失效模式分析
TCT温度循环测试
08
功率温度循环测试(PTC)
与TCT的区别 · 功率施加方式 · 热阻监控
PTC功率温度循环测试
09
高加速应力测试(HAST)
测试条件 · 偏压条件 · 防腐蚀机理
HAST高加速应力测试
10
温度湿度偏置测试(THB)
85/85测试 · 漏电流监控 · 失效机理
THB温度湿度偏置测试
11
预处理测试(PC)
MSL等级 · 回流焊模拟 · 超声波扫描(SAM)
PC预处理测试
12
静电放电测试(ESD)
HBM/CDM模型 · 测试等级 · 失效判定
ESD静电放电测试
13
闩锁效应测试(LU)
测试条件 · 触发电流 · I/O特性曲线
LU闩锁效应测试
14
电磁兼容测试(EMC)
辐射/传导发射 · 抗扰度测试 · TEM小室法
EMC电磁兼容测试
15
引脚寿命测试
插拔次数 · 接触电阻监控 · 镀层磨损分析
引脚寿命测试插拔次数
16
机械冲击测试
冲击波形 · 加速度等级 · 封装开裂风险
机械冲击测试冲击波形
17
振动测试
随机/正弦振动 · 频率范围 · 焊球疲劳寿命
振动测试随机
18
热阻测试
Theta-JA/Theta-JC · 测试方法(JEDEC标准) · 热模型校准
热阻测试Theta-JA/The…
19
可焊性测试
老化条件 · 浸锡时间 · 润湿角判定
可焊性测试老化条件
20
邦定强度测试
金线/铜线拉力 · 球剪切力 · 失效模式分类
邦定强度测试金线
21
芯片剪切强度测试
推拉力测试 · 失效界面分析 · 判据标准
芯片剪切强度测试推拉力测试
22
水汽含量测试
内部水汽分析 · 质谱法 · 密封性判定
水汽含量测试内部水汽分析
23
密封性测试
细检漏/粗检漏 · 氦气示踪 · 漏率计算
密封性测试细检漏
24
X射线检测
内部结构检查 · 空洞率计算 · 键合线变形
X射线检测内部结构检查
25
声学扫描显微镜(SAM)
分层检测 · 芯片粘接质量 · 扫描模式选择
SAM声学扫描显微镜
26
破坏性物理分析(DPA)
制程评估 · 结构完整性 · 材料分析
DPA破坏性物理分析
27
可靠性数据统计
Weibull分布 · 失效率计算 · 置信区间
可靠性数据统计Weibull
28
测试报告撰写
数据呈现 · 异常分析 · 结论与建议
测试报告撰写数据呈现
29
认证审核流程
实验室资质 · 文件审查 · 现场审核要点
认证审核流程实验室资质
30
常见失败案例与对策
典型案例分析 · 根因定位 · 设计改进建议
常见失败案例对策