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本课程属于：165-ATE量产测试与数据分析
芯片硬件与光电工程 · 共 9 门相关课程，组合学习更完整。
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01
良率基础概念
什么是良率 · 良率的分类 · 良率对成本的影响
什么是良率良率的分类
02
缺陷与失效分析
什么是良率 · 良率的分类 · 良率对成本的影响
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03
SPC与过程控制
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04
DOE实验设计
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05
FMEA失效模式分析
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06
8D问题解决法
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07
良率数据挖掘
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08
工艺窗口优化
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09
设备与治具管理
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10
人员与操作规范
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11
物料与供应链管理
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12
环境与ESD控制
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13
测试程序优化
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14
良率提升项目组织
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15
DMAIC方法论
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16
DMAIC进阶
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17
大数据与AI在良率中的应用
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18
先进工艺控制（APC）
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19
良率与可靠性
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20
客户与供应商协同
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21
成本效益分析
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22
变更管理
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23
良率会议与报告
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24
跨厂区良率对标
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25
新产品导入（NPI）良率
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26
低良率紧急响应
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27
良率提升案例库
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28
自动化与数字化
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29
持续改进文化
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30
良率提升未来趋势
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