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本课程属于：156-功率分析与谐波测量 芯片硬件与光电工程 · 共 9 门相关课程，组合学习更完整。
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宽禁带开关损耗测量工程

共计 30 章节
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01
课程导入
目标=宽禁带功率器件开关损耗测量的工… · 学习目标 · 课程整体框架与知识地图
课程导入目标=宽禁带功率…
02
宽禁带半导体基础
目标=SiC与GaN的材料特性 · 器件结构 · 开关行为与传统Si器件的差异
宽禁带半导体基础SiC
03
开关损耗物理机制
目标=开通损耗 · 关断损耗 · 反向恢复损耗
开关损耗物理机制目标=开通损耗
04
测量标准与规范
目标=JEDEC · IEC · IEEE相关标准解读
测量标准规范
05
测量系统架构
目标=示波器 · 探头 · 电源
测量系统架构目标=示波器
06
电压测量技术
目标=高压差分探头 · 光隔离探头 · 无源探头补偿与带宽选择对损耗计算的影…
电压测量技术目标=高压差分探…
07
电流测量技术
目标=同轴分流器 · 罗氏线圈 · 电流互感器
电流测量技术目标=同轴分流器
08
探头去嵌与校准
目标=传输线延迟 · 探头负载效应 · 去嵌算法与校准夹具的设计与验证
探头去嵌校准
09
双脉冲测试平台搭建
目标=母线电容 · 叠层母排 · 功率回路布局
双脉冲测试平台搭…目标=母线电容
10
双脉冲测试操作流程
目标=脉冲宽度设定 · 死区时间控制 · 温度条件
双脉冲测试操作流…目标=脉冲宽度设…
11
开关损耗计算方法
目标=电压电流乘积积分法 · 能量法 · 示波器数学函数与离线后处理对比
开关损耗计算方法目标=电压电流乘…
12
测量带宽与采样率
目标=奈奎斯特准则 · 混叠效应 · 上升时间与带宽关系
测量带宽采样率
13
时序对齐与延迟校正
目标=电压电流通道间偏斜测量 · 去偏斜方法 · 残余延迟对损耗误差的量化
时序对齐延迟校正
14
共模干扰与噪声抑制
目标=共模电流路径 · 屏蔽与接地策略 · 数字滤波与平均处理的正确使用
共模干扰噪声抑制
15
温度对开关损耗的影响
目标=结温控制方法 · 温度系数 · 高温测试夹具与温度相关损耗建模
温度对开关损耗的…目标=结温控制方…
16
驱动参数对损耗的影响
目标=栅极电阻 · 驱动电压 · 有源栅极驱动
驱动参数对损耗的…目标=栅极电阻
17
寄生参数提取与影响
目标=功率回路电感 · 共源电感 · 封装寄生电容的测量
寄生参数提取影响
18
SiC MOSFET开关损耗测量案例
目标=双脉冲测试全流程 · 波形分析 · 损耗计算与误差评估
SiCMOSFET
19
GaN HEMT开关损耗测量案例
目标=高电子迁移率器件特性 · 高频测试挑战 · 测量方案与结果讨论
GaNHEMT
20
不同封装与模块的测量差异
目标=TO封装 · 贴片封装 · 功率模块的测量适配与夹具设计
不同封装模块的测量差异
21
软开关与谐振拓扑损耗测量
目标=ZVS · ZCS工作模式下的损耗定义 · 测量难点与替代方法
软开关谐振拓扑损耗测量
22
桥式电路与死区损耗测量
目标=半桥与全桥中的死区损耗 · 体二极管导通损耗 · 串扰影响与测量策略
桥式电路死区损耗测量
23
高频与超高频测量挑战
目标=MHz级开关的探头带宽 · 采样率 · 电磁辐射与测量可重复性问题
高频超高频测量挑战
24
测量不确定度分析
目标=误差来源分类 · A类与B类不确定度评定 · 损耗测量结果的置信区间
测量不确定度分析目标=误差来源分…
25
自动化测量与数据管理
目标=程控仪器 · 脚本化测试 · 数据采集软件
自动化测量数据管理
26
仿真与测量联合验证
目标=LTspice · PLECS · Saber仿真模型校准
仿真测量联合验证
27
常见测量错误与排查
目标=波形振荡 · 地环路 · 探头饱和
常见测量错误排查
28
测量结果对比与基准测试
目标=不同实验室 · 不同设备 · 不同方法之间的结果复现与偏差分析
测量结果对比基准测试
29
工程实战项目
目标=设计并完成一套宽禁带器件开关损… · 包含选型 · 搭建
工程实战项目目标=设计并完成…
30
综合提升与前沿展望
目标=宽禁带器件损耗测量技术趋势 · 宽禁带器件可靠性 · 新型测量方法与行业应用
综合提升前沿展望