VIP7
本课程属于：125-功率器件驱动与保护 芯片硬件与光电工程 · 共 7 门相关课程，组合学习更完整。
查看所属VIP全部课程 →
← 返回所属目录 咨询 / 购买

半桥死区与直通保护设计

共计 30 章节
可可资料掘金营 · 点击在线试看
01
课程导入
目标=半桥拓扑的应用背景 · 死区与直通保护的重要性 · 课程学习目标与整体框架
课程导入目标=半桥拓扑的…
02
半桥电路基础
目标=半桥拓扑结构 · 开关器件（MOSFET/IGBT）特… · 上下管互补驱动原理
半桥电路基础目标=半桥拓扑结…
03
直通现象解析
目标=直通的定义 · 产生原因（驱动信号重叠 · 器件延迟
直通现象解析目标=直通的定义
04
死区时间概念
目标=死区时间的定义 · 作用 · 与开关频率和占空比的关系
死区时间概念目标=死区时间的…
05
死区时间设置原则
目标=最小死区时间计算 · 器件开关时间与驱动延迟 · 温度与电压变化的影响
死区时间设置原则目标=最小死区时…
06
死区时间对性能的影响
目标=死区导致的输出电压损失 · 谐波畸变 · 效率下降
死区时间对性能的…目标=死区导致的…
07
直通保护策略概述
目标=硬件保护 · 软件保护 · 混合保护
直通保护策略概述目标=硬件保护
08
硬件直通保护电路
目标=栅极驱动互锁 · RC延时电路 · 逻辑门互锁
硬件直通保护电路目标=栅极驱动互…
09
软件直通保护方法
目标=PWM死区插入 · 互补信号生成 · 死区时间动态调整
软件直通保护方法PWM
10
栅极驱动电路设计
目标=驱动电阻选择 · 隔离驱动 · 自举电路
栅极驱动电路设计目标=驱动电阻选…
11
死区时间与开关损耗
目标=死区期间体二极管导通 · 反向恢复损耗 · 死区时间优化与效率平衡
死区时间开关损耗
12
死区补偿技术
目标=平均电压补偿 · 电流极性检测 · 自适应死区控制
死区补偿技术目标=平均电压补…
13
常见驱动芯片死区设置
目标=IR2110 · UCC21520 · Si823x等芯片的死区配置与保护特…
常见驱动芯片死区…IR2110
14
基于MCU/DSP的死区生成
目标=PWM模块死区寄存器配置 · 互补输出模式 · 死区时间计算与代码示例
MCU/DSP基于
15
直通故障检测与保护
目标=过流检测 · DESAT检测 · 短路保护
直通故障检测保护
16
死区与直通保护的仿真验证
目标=LTspice/PSIM/MA… · 死区设置 · 直通故障注入与保护响应
死区直通保护的仿真验…
17
实验测试方法
目标=双脉冲测试 · 死区时间测量 · 直通保护触发测试
实验测试方法目标=双脉冲测试
18
案例实战一
目标=低压半桥电机驱动死区与直通保护…
案例实战一目标=低压半桥电…
19
案例实战二
目标=高压半桥电源（如LLC · 逆变器）死区优化与直通保护设计
案例实战二LLC
20
案例实战三
目标=基于GaN/SiC器件的半桥死…
案例实战三GaN/SiC
21
常见问题与调试技巧
目标=死区不足导致直通 · 死区过大导致畸变 · 驱动振荡
常见问题调试技巧
22
死区时间与电磁兼容
目标=死区引起的EMI问题 · 开关节点振铃 · 缓冲电路与屏蔽措施
死区时间电磁兼容
23
热设计与保护配合
目标=直通电流热效应 · 散热设计 · 过温保护与死区策略的协同
热设计保护配合
24
功能安全与可靠性
目标=ISO 26262/ IEC… · 故障模式与诊断覆盖率
功能安全可靠性
25
死区与直通保护的系统级考量
目标=多相半桥 · 并联器件 · 母线电容与布局影响
死区直通保护的系统级…
26
先进控制策略
目标=预测死区补偿 · 在线死区调整 · 基于电流过零检测的自适应死区
先进控制策略目标=预测死区补…
27
测试标准与认证
目标=相关安规标准 · 死区时间测试规范 · 保护功能验证流程
测试标准认证
28
综合设计项目
目标=给定半桥规格 · 完成死区计算 · 保护电路设计
综合设计项目目标=给定半桥规…
29
课程总结与知识体系
目标=核心知识点回顾 · 设计流程梳理 · 常见误区与最佳实践
课程总结知识体系
30
扩展学习与前沿趋势
目标=宽禁带器件死区挑战 · 智能驱动 · 集成保护方案
扩展学习前沿趋势