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本课程属于：103-光通信测试与量产工程 芯片硬件与光电工程 · 共 8 门相关课程，组合学习更完整。
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光通信芯片量产测试方案实战课程

共计 30 章节
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01
课程导入
光通信芯片量产测试的行业背景 · 课程目标 · 学习路径与整体框架
课程导入光通信芯片量产测…
02
光通信芯片基础
光通信系统架构 · 光芯片类型（激光器 · 调制器
光通信芯片基础光通信系统架构
03
量产测试概述
量产测试的定义 · 目的 · 与研发测试的区别
量产测试概述量产测试的定义
04
测试标准与规范
光通信芯片测试相关的国际标准（如IT… · IEEE · MSA）及行业规范
测试标准规范
05
测试项目分类
光参数测试（光功率 · 波长 · 光谱）
测试项目分类光参数测试
06
测试系统架构
量产测试系统的组成（测试机 · 探针台 · 分选机
测试系统架构量产测试系统的组…
07
测试硬件设计
探针卡 · 测试座（socket） · PCB设计要点
测试硬件设计探针卡
08
光耦合与对准技术
光纤耦合 · 透镜耦合 · 对准精度要求
光耦合对准技术
09
测试仪表与设备
光功率计 · 光谱仪 · 误码仪
测试仪表设备
10
测试程序开发
测试程序架构 · 测试流程控制 · 参数配置
测试程序开发测试程序架构
11
测试算法与数据处理
测试数据滤波 · 校准算法 · 参数计算（如消光比
测试算法数据处理
12
校准与补偿
系统校准方法（功率校准 · 波长校准） · 温度补偿
校准补偿
13
量产测试流程设计
从晶圆测试（CP）到成品测试（FT）… · 测试步骤优化与并行测试策略
量产测试流程设计CP
14
晶圆级测试（CP）
晶圆测试的特殊性 · 探针台操作 · 晶圆图（Wafer Map）生成与良…
CP晶圆级测试
15
成品测试（FT）
封装后测试项目 · 测试夹具设计 · 测试时间优化与多工位并行测试
FT成品测试
16
测试良率与失效分析
良率定义 · 失效模式分类（光 · 电
测试良率失效分析
17
测试数据管理
数据采集规范 · 数据库设计 · SPC（统计过程控制）应用
测试数据管理数据采集规范
18
测试自动化与MES集成
测试系统与MES（制造执行系统）的接… · 自动化上下料 · 数据自动上传与远程监控
MES测试自动化
19
测试时间优化
减少测试时间的策略（并行测试 · 优化测试序列 · 减少冗余测试项）
测试时间优化减少测试时间的策…
20
可靠性测试与量产测试结合
老化测试 · 温度循环 · 湿度测试等可靠性筛选在量产中的实施
可靠性测试量产测试结合
21
常见测试问题与解决方案
光耦合偏差 · 探针接触不良 · 电磁干扰
常见测试问题解决方案
22
案例实战
25G/100G光模块用光芯片量产测…
案例实战G/100G
23
案例实战
硅光芯片量产测试的特殊挑战（耦合难度 · 晶圆级测试 · 自动化方案）
案例实战硅光芯片量产测试…
24
案例实战
高速EML（电吸收调制激光器）芯片量… · 眼图测量 · 误码测试）
案例实战EML
25
案例实战
VCSEL（垂直腔面发射激光器）芯片… · 并行测试 · 光斑分析）
案例实战VCSEL
26
案例实战
光探测器（PD/APD）芯片量产测试… · 暗电流 · 带宽测试）
案例实战PD/APD
27
测试方案文档编写
如何编写量产测试方案书（测试项目 · 测试条件 · 设备清单
测试方案文档编写如何编写量产测试…
28
测试系统验证与维护
测试系统GR&R（重复性与再现性）分… · 系统校准周期 · 日常维护与故障排查
测试系统验证维护
29
前沿技术与发展趋势
AI在测试数据分析中的应用 · 5G/6G光通信对测试的新要求 · 自动化测试平台演进
前沿技术发展趋势
30
综合实战项目
从零构建一套光通信芯片量产测试方案（… · 软件编写 · 调试
综合实战项目从零构建一套光通…