第1章
电源老化测试概述
什么是老化测试、测试的目的与意义，以及在电源产品生命周期中的关键定位。
基础概念生命周期
第2章
老化测试理论基础
阿伦尼乌斯模型、加速因子计算、温度与寿命的关系及失效机理分析。
加速模型失效物理
第3章
老化测试设备与系统
老化房/柜设计、电子负载与直流电源选型、数据采集及监控保护电路搭建。
硬件系统选型指南
第4章
老化测试方案设计
样本量确定（置信度与可靠性）、应力条件、测试时间计算与终止准则。
方案设计统计方法
第5章
老化测试实施流程
测试前准备（样品检查、设备校准）、过程监控与测试后数据分析整理。
操作流程数据记录
第6章
老化测试数据分析
数据清洗预处理、参数漂移分析、FMEA及威布尔分布分析。
统计分析FMEA
第7章
可靠性验证基础
MTBF/MTTF/失效率、串联并联冗余模型、可靠性分配与预计。
可靠性指标系统模型
第8章
加速寿命试验（ALT）
恒定/步进/序进应力加速，Arrhenius、Coffin-Manson、Peck模型选择。
ALT加速模型
第9章
高加速寿命试验（HALT）
HALT原理与目的、振动/温度循环/快速温变剖面、HALT与HASS区别。
HALT高加速
第10章
环境应力筛选（ESS）
ESS原理、温度循环与随机振动筛选、筛选强度计算及方案优化。
ESS筛选
第11章
温度循环测试
JEDEC/MIL-STD标准、温变速率与驻留时间、热冲击及失效模式分析。
温度循环标准
第12章
湿热测试
恒定湿热与交变湿热、IEC 60068/GB/T 2423标准、凝露腐蚀机理与评估。
湿热腐蚀
第13章
振动与冲击测试
随机/正弦振动、机械冲击、夹具设计、共振点搜索与耐久测试。
振动冲击
第14章
盐雾与腐蚀测试
ASTM B117/IEC 60068-2-11标准、测试周期判定、防护涂层验证。
盐雾防护
第15章
EMC可靠性测试
传导/辐射发射、ESD/EFT/Surge抗扰度、EMC与可靠性关联。
EMC抗扰度
第16章
元器件可靠性筛选
批次验证、DPA分析、高温存储/温度循环/老炼筛选测试。
元器件DPA
第17章
焊接可靠性
回流焊/波峰焊工艺、焊点可靠性评估、X-Ray检测与切片分析。
焊接焊点
第18章
PCB可靠性
材料选择（TG/CTE）、热应力测试、CAF测试、绝缘电阻测试。
PCB基板
第19章
电源管理IC可靠性
IC老化机制（电迁移/热载流子/TDDB）、HTOL/LTOL测试与寿命评估。
IC老化机制
第20章
电解电容与MOSFET可靠性
电解电容寿命计算（10度法则）、MOSFET雪崩耐量、SOA验证。
电容MOSFET
第21章
变压器与电感可靠性
磁芯饱和测试、绕组绝缘测试、热阻测量与寿命评估方法。
磁性元件绝缘
第22章
光耦与隔离器件可靠性
CTR退化、隔离电压测试、寿命加速模型。
光耦隔离
第23章
风扇与散热系统可靠性
风扇L10寿命测试、轴承类型、散热器热阻测量与风道设计验证。
散热风扇
第24章
连接器与线缆可靠性
插拔寿命、接触电阻监测、振动瞬断测试、线缆弯曲寿命。
连接器线缆
第25章
可靠性增长试验（RGT）
试验计划、失效跟踪纠正、Duane/AMSAA模型与终止准则。
增长试验Duane
第26章
可靠性验证试验（RDT）
定时/定数截尾方案、置信区间计算、接收/拒收判据。
验证试验统计
第27章
失效分析技术
X-Ray/CT/声学显微镜、开封去层、FIB/TEM等破坏性分析。
失效分析显微
第28章
可靠性数据管理
数据记录规范、数据库建立、Minitab/JMP/Weibull++工具与报告撰写。
数据管理工具
第29章
可靠性标准与认证
IEC 62368-1、UL 60950-1、GB 4943.1、GJB 150/899、AEC-Q100。
标准认证
第30章
综合案例实战
通信电源老化方案设计、工业电源可靠性验证计划、失效案例复盘与改进。
实战案例