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ASIC设计Tessent Mbist与Bisr全流程集成

共计 30 章节

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学习目标 · 课程大纲 · 适用人群

课程导入学习目标

存储器测试基础

存储器故障模型（固定故障 · 转换故障 · 耦合故障

存储器测试基础存储器故障模型

MBIST概念与架构

MBIST（Memory Built… · 典型架构（控制器 · 比较器

BISR概念与架构

BISR（Built-In Self… · 冗余行/列/块修复策略 · 修复分析流程

Tessent工具套件概览

Tessent MBIST · Tessent BISR · Tessent Shell

Tessent工具套件概览

Tessent MBIST设计流程

从RTL到GDSII的MBIST集成… · 包括插入 · 验证

Tessent MBIST插入方法

使用Tessent Shell插入M… · BIST接口 · 测试访问机制（TAM）

MBIST测试模式与协议

MBIST测试模式（如快速测试 · 慢速测试 · 保持测试）

MBIST测试模式

MBIST与JTAG/1149.1集成

如何通过JTAG接口访问MBIST控… · 实现测试控制与诊断 · 以及IEEE 1149.1标准适配

MBISTJTAG/1149.1

MBIST仿真与验证

使用Tessent工具进行MBIST… · 时序仿真 · 故障注入验证

Tessent BISR设计流程

BISR插入 · 修复逻辑生成 · 冗余元素分配

BISR修复机制详解

行修复 · 列修复 · 块修复

BISR修复机制详解

MBIST与BISR协同工作

MBIST检测故障后如何触发BISR… · 修复后重测流程 · 以及状态机设计

Tessent Memory Repair流程

使用Tessent工具进行存储器修复… · 包括修复分析 · 修复寄存器配置

Tessent MBIST与BISR的RTL集成

在RTL设计中插入MBIST/BIS… · 接口定义 · 时钟/复位处理

综合与DFT集成

MBIST/BISR逻辑在综合中的约… · DFT扫描链插入 · ATPG与MBIST的协同测试策略

物理实现考虑

MBIST/BISR逻辑的布局布线 · 时钟树综合 · 功耗与面积优化

物理实现考虑MBIST/BISR

测试向量生成与压缩

MBIST测试向量生成方法 · 测试数据压缩技术（如LFSR · MISR）

测试向量生成压缩

故障诊断与良率分析

使用Tessent Diagnosi… · 失效分析 · 良率提升方法

故障诊断良率分析

小型SRAM MBIST集成 · 包括脚本编写 · 仿真验证

案例实战SRAM

多存储器BISR集成 · 处理冗余共享 · 修复优先级等复杂场景

案例实战BISR

SoC级MBIST/BISR集成 · 处理测试调度 · 并发测试

案例实战SoC

脚本自动化与流程优化

使用Tcl脚本自动化Tessent… · 实现参数化配置 · 批量处理

脚本自动化流程优化

常见问题与调试技巧

MBIST/BISR集成中常见错误（… · 接口不匹配 · 修复失败）及调试方法

常见问题调试技巧

测试覆盖率与质量评估

如何评估MBIST/BISR的测试覆… · 故障覆盖率 · 修复覆盖率

测试覆盖率质量评估

低功耗测试设计

MBIST/BISR在低功耗设计中的… · 如时钟门控 · 功耗感知测试调度

低功耗测试设计MBIST/BISR

先进工艺与新型存储器测试

FinFET · 3D IC · 新型存储器（如MRAM

先进工艺新型存储器测试

Tessent MBIST/BISR与IEEE 1500标准

如何支持嵌入式核测试标准 · 实现核级测试集成

TessentMBIST/BISR

从MBIST/BISR到可测试性设计… · 压缩测试 · 诊断测试

综合提升MBIST/BISR

课程总结与项目实战

综合运用所学知识 · 完成一个完整的ASIC MBIST/… · 包括设计

课程总结项目实战