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ASIC设计存储器BIST算法与诊断修复逻辑设计

共计 30 章节
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01
课程导入
学习目标 · 课程大纲 · 存储器测试背景与BIST的价值
课程导入学习目标
02
存储器基础知识
SRAM/DRAM/ROM结构 · 存储单元工作原理 · 常见故障模式（固定故障
存储器基础知识SRAM/DRAM/RO…
03
存储器测试基础
测试原理 · 故障模型分类 · 测试覆盖率定义
存储器测试基础测试原理
04
BIST架构概述
BIST基本组成（控制器 · 测试向量生成器 · 响应分析器）
BIST架构概述
05
March算法基础
March算法表示法 · March C · March C-
March算法基础
06
高级March算法
March SS · March LR · March BIST等改进算法
March高级
07
故障模型与算法映射
如何根据故障模型选择BIST算法 · 算法有效性评估方法
故障模型算法映射
08
BIST控制器设计
状态机设计 · 测试序列生成 · 时钟控制
BIST控制器设计
09
测试向量生成器设计
LFSR原理 · 伪随机测试 · 确定性测试向量生成方法
测试向量生成器设…LFSR
10
响应分析器设计
多输入特征寄存器（MISR） · 比较器设计 · 签名分析
响应分析器设计MISR
11
BIST接口与集成
BIST与SoC集成 · 测试访问机制（TAM） · IEEE 1500标准
BIST接口
12
存储器诊断基础
诊断目标 · 故障定位 · 诊断数据采集
存储器诊断基础诊断目标
13
诊断逻辑设计
故障字典 · 故障地址存储 · 诊断寄存器
诊断逻辑设计故障字典
14
修复逻辑基础
冗余行/列修复 · 熔丝/反熔丝技术 · 修复决策算法
修复逻辑基础冗余行
15
修复分析算法
最优修复策略 · 启发式算法 · 修复率计算
修复分析算法最优修复策略
16
BIST与修复集成
BIST诊断结果驱动修复流程 · 内建自修复（BISR）架构
BIST修复集成
17
BISR设计案例
典型BISR模块设计 · 冗余元素分配 · 修复流程状态机
BISR设计案例
18
存储器BIST设计流程
从规格定义到RTL实现 · 验证 · 综合
BIST存储器
19
BIST验证方法
仿真验证 · 形式化验证 · 故障注入验证
BIST验证方法
20
BIST可测试性设计
扫描链集成 · 测试点插入 · 可观测性/可控性提升
BIST可测试性设计
21
低功耗BIST设计
功耗优化技术 · 时钟门控 · 测试模式功耗管理
BIST低功耗
22
高速BIST设计
时序约束 · 流水线设计 · 高速接口
BIST高速
23
BIST与存储器工艺
先进工艺（FinFET · 3D）对BIST的影响 · 新故障模型
BIST存储器工艺
24
BIST在存储器修复中的应用
冗余分析 · 修复率提升 · 良率改善案例
BIST存储器修复
25
案例实战
基于SRAM的BIST设计实例（RT… · 仿真波形 · 故障注入）
案例实战SRAM
26
案例实战
基于DRAM的BIST与修复逻辑设计…
案例实战DRAM
27
常见问题与调试
BIST启动失败 · 误判 · 覆盖率不足
常见问题调试
28
工具与EDA流程
主流EDA工具（如Synopsys · Cadence）中BIST实现流程 · 脚本自动化
EDA工具
29
综合提升
BIST算法优化 · 诊断修复协同设计 · 可扩展性设计
综合提升BIST
30
课程总结与项目实战
综合项目（设计一个带BIST和修复逻… · 课程回顾 · 考核方式
课程总结项目实战