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ASIC设计内建自测试逻辑BIST与存储器BIST入门到精通

共计 30 章节

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BIST的定义 · 发展历史 · 在ASIC设计中的重要性

课程导论BIST

可测试性设计基础

DFT基本概念 · 故障模型（固定故障 · 跳变故障

可测试性设计基础DFT

BIST架构与分类

逻辑BIST与存储器BIST的区别 · BIST的基本组成（测试模式生成器 · 响应分析器

测试模式生成技术

LFSR原理 · 伪随机模式生成 · 加权随机模式

测试模式生成技术LFSR

响应压缩与签名分析

多输入移位寄存器（MISR） · 签名分析原理 · 混淆概率

响应压缩签名分析

逻辑BIST设计流程

从RTL到GDSII的BIST插入流… · BIST控制器设计 · 测试时钟与测试控制信号

逻辑BIST的测试点插入

测试点选择算法 · 控制点与观察点插入 · 对故障覆盖率的影响

逻辑BIST的测试调度与功耗优化

测试调度策略 · 低功耗BIST设计 · 测试期间功耗约束

逻辑BIST的故障诊断

基于BIST的故障定位 · 诊断分辨率 · 内建诊断技术

逻辑BIST的工业实践

典型SoC中逻辑BIST的实现案例 · 与扫描链的结合 · ATPG与BIST的协同

存储器BIST基础

存储器故障模型（SAF · TF · CF

存储器BIST架构

BIST控制器 · 地址生成器 · 数据生成器

存储器BIST算法实现

March算法在BIST中的实现 · 算法参数配置 · 可编程BIST

存储器BIST的修复与冗余

行/列替换 · 内建自修复（BISR） · 冗余分析

存储器BIST的时序与性能

高速存储器BIST设计 · 时序收敛 · 与存储器接口的时序匹配

存储器BIST的测试调度与并发测试

多存储器BIST调度 · 并发测试策略 · 测试时间优化

存储器BIST的故障诊断与调试

故障地址捕获 · 故障类型识别 · 诊断数据读取

存储器BIST的工业实践

嵌入式存储器BIST工具使用 · 存储器BIST在SoC中的集成 · 案例研究

BIST的验证与仿真

BIST电路的验证方法 · 仿真测试平台搭建 · 故障注入验证

BIST的物理实现

BIST电路的综合 · 布局布线 · 时钟树设计

BIST的物理实现

BIST的测试成本分析

面积开销 · 测试时间 · 性能影响

BIST的测试成本分析

BIST的可靠性设计

冗余BIST · 自测试自修复 · 在线测试

BIST的可靠性设计

BIST与扫描测试的协同

扫描链与BIST结合 · 混合测试方案 · 测试覆盖率提升

BIST扫描测试的协同

BIST的自动化流程

EDA工具支持 · 脚本化BIST插入 · 回归测试

BIST的自动化流程

BIST的调试与故障排除

常见BIST失效原因 · 调试技巧 · 测试失败分析

BIST的进阶技术

自适应BIST · 机器学习在BIST中的应用 · BIST for 3D IC

BIST的进阶技术

BIST的标准化与合规

IEEE 1149.1 · IEEE 1500 · IEEE P1687

BIST的标准化

BIST在特定应用中的设计

汽车电子 · 物联网 · 高性能计算中的BIST要求与设计

BIST特定应用

综合实战项目

设计一个逻辑BIST模块并集成到简单… · 完成验证与测试

综合实战项目BIST

综合实战项目

设计一个存储器BIST模块并集成到S… · 实现故障检测与修复 · 并撰写报告

综合实战项目BIST