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GaN器件可靠性测试与失效分析

共计 30 章节
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01
课程导入
GaN器件可靠性测试与失效分析的行业… · 学习目标 · 课程框架与学习方法
课程导入GaN
02
GaN器件基础
GaN材料特性 · HEMT结构 · 工作原理
GaN器件基础
03
可靠性物理基础
失效物理 · 应力类型（电 · 热
可靠性物理基础失效物理
04
可靠性测试标准与规范
JEDEC · AEC-Q101 · MIL-STD等标准在GaN器件中的…
可靠性测试标准规范
05
测试设备与平台
可靠性测试所需的主要仪器（源表 · 示波器 · 热像仪
测试设备平台
06
直流特性测试
I-V特性 · 转移特性 · 输出特性
直流特性测试I-V
07
动态特性测试
开关特性 · 栅极电荷 · 动态导通电阻
动态特性测试开关特性
08
热可靠性测试
热阻 · 结温测量方法（红外 · 电学法）
热可靠性测试热阻
09
高低温存储测试
高温存储 · 低温存储的测试条件 · 失效模式及对器件性能的影响
高低温存储测试高温存储
10
温度循环与温度湿度偏置测试
温度循环（TC） · 高温高湿偏置（THB/HAST）的测…
温度循环温度湿度偏置测试
11
栅极可靠性测试
栅极应力测试（PBTI · NBTI） · 栅极漏电
栅极可靠性测试PBTI
12
漏电与击穿测试
关态漏电 · 栅极漏电 · 击穿电压（BV）测试
漏电击穿测试
13
动态导通电阻退化测试
硬开关与软开关条件下的动态Rds(o…
动态导通电阻退化…Rds
14
ESD与闩锁测试
人体模型（HBM） · 机器模型（MM） · 充电器件模型（CDM）测试及闩锁效应…
ESD闩锁测试
15
加速寿命试验
Arrhenius模型 · 加速因子计算 · 高温工作寿命（HTOL）测试设计与实…
加速寿命试验Arrhenius
16
可靠性数据统计与分析
Weibull分布 · 失效率 · 置信区间
可靠性数据统计分析
17
失效分析流程
失效分析步骤（外观检查 · 电测试 · 物理分析）
失效分析流程失效分析步骤
18
物理失效分析技术
光学显微镜 · SEM · TEM
物理失效分析技术光学显微镜
19
热点定位与热分析
红外热成像 · 液晶热像 · 微光显微镜（EMMI）在失效定位中的…
热点定位热分析
20
常见失效模式与机理
栅极退化 · 电流崩塌 · 热电子注入
常见失效模式机理
21
案例实战
GaN功率器件在高温高湿偏置下的失效…
案例实战GaN
22
案例实战
GaN器件在开关应用中的动态导通电阻…
案例实战GaN
23
案例实战
GaN器件栅极击穿与阈值电压漂移的失…
案例实战GaN
24
案例实战
GaN器件在ESD事件中的失效模式与…
案例实战GaN
25
可靠性设计（DFR）
可靠性设计准则 · 降额设计 · 冗余设计
DFR可靠性设计
26
工艺与封装对可靠性的影响
外延缺陷 · 栅介质工艺 · 封装材料
工艺封装对可靠性的影…
27
可靠性测试方案设计
根据应用场景（电源 · 射频 · 汽车）制定可靠性测试计划与流程
可靠性测试方案设…根据应用场景
28
常见问题与误区
测试中的常见错误 · 数据解读误区 · 可靠性评估中的陷阱
常见问题误区
29
前沿进展与趋势
GaN可靠性研究的最新进展 · 新型测试方法 · 标准更新与行业动态
前沿进展趋势
30
综合项目实战
设计一个完整的GaN器件可靠性测试与… · 包括方案 · 执行
综合项目实战GaN