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ASIC测试量产 良率数据驱动与统计故障分析

共计 30 章节
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01
课程导入
学习目标 · 课程定位 · ASIC测试量产全流程概览
课程导入学习目标
02
半导体测试基础
晶圆测试 · 封装测试 · 最终测试的流程与区别
半导体测试基础晶圆测试
03
良率定义与关键指标
晶圆良率 · 封装良率 · 最终测试良率
良率定义关键指标
04
测试数据采集与规范
测试数据格式（STDF · ATDF） · 数据采集系统
测试数据采集规范
05
良率数据可视化与报告
常用图表（良率趋势图 · 帕累托图 · 晶圆图
良率数据可视化报告
06
统计过程控制（SPC）基础
控制图原理 · 均值-极差图 · P图
SPC统计过程控制
07
良率损失分类与归因
系统性损失 · 随机性损失 · 参数性损失
良率损失分类归因
08
晶圆图分析（Wafer Map）
晶圆图模式识别 · 聚类分析 · 边缘效应
WaferMap
09
测试项与良率关联分析
测试项参数分布 · 测试项失效模式 · 测试项相关性分析
测试项良率关联分析
10
统计故障分析（SFA）概念
故障定义 · 故障模型 · 故障字典
SFA统计故障分析
11
故障分布与空间分析
故障在晶圆上的空间分布 · 缺陷密度模型 · 泊松模型
故障分布空间分析
12
良率模型与预测
Poisson良率模型 · Murphy模型 · 负二项模型
良率模型预测
13
数据驱动故障定位
基于测试数据的关键参数分析 · 故障特征提取 · 故障模式分类（如使用机器学习）
数据驱动故障定位基于测试数据的关…
14
机器学习在良率分析中的应用
常用算法（决策树 · 随机森林 · SVM
机器学习良率分析
15
良率提升方法论
DMAIC流程 · 8D报告 · 鱼骨图
良率提升方法论DMAIC
16
测试程序优化与良率
测试项冗余分析 · 测试时间压缩 · 测试限调整对良率的影响
测试程序优化良率
17
硬件与探针卡对良率的影响
探针卡磨损 · 接触电阻 · 针痕分析
硬件探针卡对良率的影…
18
封装与测试交互
封装工艺对测试良率的影响 · 封装后测试失效分析 · 热应力与机械应力导致的故障
封装测试交互
19
可靠性测试与良率
早期失效 · 浴盆曲线 · HTOL
可靠性测试良率
20
良率数据仓库与大数据平台
数据存储架构 · ETL流程 · 数据治理
良率数据仓库大数据平台
21
统计故障分析实战案例一
某SoC芯片量产良率骤降 · 通过晶圆图与测试数据定位系统性故障源
统计故障分析实战…SoC
22
统计故障分析实战案例二
某电源管理芯片参数漂移导致良率损失 · 利用SPC与相关性分析找出关键测试项
统计故障分析实战…某电源管理芯片参…
23
统计故障分析实战案例三
某存储芯片随机缺陷分布 · 应用负二项模型与聚类分析优化良率预测
统计故障分析实战…某存储芯片随机缺…
24
统计故障分析实战案例四
某射频芯片测试数据异常 · 通过机器学习分类识别故障模式并改进测…
统计故障分析实战…某射频芯片测试数…
25
常见问题与陷阱
数据噪声 · 样本量不足 · 过拟合
常见问题陷阱
26
工具与软件实践
JMP · Minitab · Spotfire
工具软件实践
27
自动化良率分析流程
从数据采集到报告生成的自动化管道设计 · 脚本编写 · 异常自动报警与根因初判
自动化良率分析流…从数据采集到报告…
28
良率与成本控制
良率对芯片成本的影响 · 测试成本与良率平衡 · 经济批量与抽样策略
良率成本控制
29
综合项目实战
基于给定测试数据集 · 完成从数据清洗 · 良率分析
综合项目实战基于给定测试数据…
30
课程总结与进阶方向
知识体系回顾 · 行业趋势（AI驱动良率分析 · 大数据平台）
课程总结进阶方向