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本课程属于：024-NI PXI模块化测试与量产验证工程 测试测量质量可靠性工程 · 共 20 门相关课程，组合学习更完整。
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NI PXI半导体器件量产测试平台开发

共计 30 章节
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01
量产测试平台需求分析
目标=半导体器件量产测试的核心指标 · 测试流程 · 产能要求与平台功能定义
量产测试平台需求…目标=半导体器件…
02
NI PXI平台架构选型
目标=PXI机箱 · 控制器 · 模块化仪器选型原则与半导体测试场景匹…
NIPXI
03
测试系统硬件集成
目标=PXI模块安装 · DUT接口板设计 · 信号调理
测试系统硬件集成PXI
04
半导体器件测试基础
目标=DC参数 · AC参数 · 功能测试
半导体器件测试基…DC
05
PXI数字化仪与示波器应用
目标=高速信号采集 · 触发同步 · 波形分析与半导体参数提取
PXI数字化仪
06
PXI源测量单元（SMU）应用
目标=IV曲线测试 · 漏电流测量 · 电源管理芯片测试与精度校准
PXISMU
07
PXI数字万用表与开关模块
目标=多路复用测量 · 低电平信号切换 · 继电器寿命与量产可靠性
PXI数字万用表
08
PXI射频仪器与半导体RF测试
目标=矢量信号发生器 · 矢量信号分析仪 · S参数测试与校准
PXIRF
09
测试程序开发环境搭建
目标=LabVIEW · TestStand · C#/.NET与PXI驱动安装配置
测试程序开发环境…LabVIEW
10
LabVIEW与PXI仪器驱动
目标=VISA · IVI · 仪器驱动API调用与多仪器同步控制
LabVIEWPXI
11
TestStand测试序列开发
目标=测试步骤 · 流程控制 · 并行测试
TestStand测试序列开发
12
半导体测试程序结构设计
目标=测试项模块化 · 参数配置 · 数据记录与错误处理机制
半导体测试程序结…目标=测试项模块…
13
量产测试校准与补偿
目标=系统校准 · 路径损耗补偿 · 温度漂移补偿与校准周期管理
量产测试校准补偿
14
测试夹具与DUT接口设计
目标=探针卡 · 测试插座 · 负载板
DUT测试夹具
15
多工位并行测试架构
目标=PXI资源分配 · 多DUT并行调度 · 测试时间优化与吞吐量提升
多工位并行测试架…PXI
16
测试数据管理与MES集成
目标=数据采集 · 数据库存储 · SECS/GEM通信与产线追溯
MES测试数据管理
17
量产测试稳定性与重复性
目标=GR&R分析 · 测试限设定 · 误判率控制与统计过程控制
量产测试稳定性重复性
18
测试程序调试与故障排查
目标=硬件故障 · 软件异常 · 信号完整性问题的定位与解决
测试程序调试故障排查
19
半导体器件量产测试案例
目标=电源管理芯片PXI测试平台开发…
半导体器件量产测…PXI
20
半导体器件量产测试案例
目标=MCU与数字接口芯片PXI测试…
半导体器件量产测…MCU
21
半导体器件量产测试案例
目标=RF前端模块PXI测试平台开发…
半导体器件量产测…RF
22
测试时间优化与产能提升
目标=并行测试 · 快速测量 · 序列优化与瓶颈分析方法
测试时间优化产能提升
23
PXI平台自动化与无人值守测试
目标=自动上下料 · 远程监控 · 报警与恢复机制
PXI平台自动化
24
测试系统安全与ESD防护
目标=高压测试安全 · 静电防护 · 接地与隔离设计
ESD测试系统安全
25
量产测试平台部署与验收
目标=系统集成 · 现场调试 · 验收标准与文档交付
量产测试平台部署验收
26
测试平台维护与版本管理
目标=硬件维护 · 软件版本控制 · 配置管理与变更流程
测试平台维护版本管理
27
测试成本控制与ROI分析
目标=硬件选型成本 · 开发成本 · 维护成本与量产效益评估
ROI测试成本控制
28
面向未来的PXI测试技术
目标=PXIe高速总线 · FPGA协处理 · AI辅助测试与边缘计算
PXI面向未来的
29
综合实战项目
目标=从需求到部署完成一个NI PX…
综合实战项目NI
30
课程总结与能力评估
目标=知识体系回顾 · 项目评审 · 常见问题答疑与持续学习路径
课程总结能力评估