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测试测量质量可靠性工程
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014-测试夹具、去嵌与测量参考面工程
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《VNA测试夹具去嵌与参考面管理工程》
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本课程属于:014-测试夹具、去嵌与测量参考面工程
测试测量质量可靠性工程 · 共 13 门相关课程,组合学习更完整。
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射频芯片版图验证中的VNA测试夹具去嵌入
共计 30 章节
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01
课程导入
学习目标 · 课程结构 · 射频芯片版图验证与VNA测试夹具去嵌…
课程导入
学习目标
02
射频芯片版图验证基础
版图设计流程 · 关键参数(S参数 · 阻抗
射频芯片版图验证…
版图设计流程
03
VNA基础原理
矢量网络分析仪的工作原理 · S参数测量 · 校准方法(SOLT
VNA
基础原理
04
测试夹具的作用与类型
探针台 · PCB夹具 · 同轴连接器
测试夹具的作用
类型
05
去嵌入的必要性
夹具引入的寄生效应(串联阻抗 · 并联导纳 · 延迟)对芯片测量精度的影响
去嵌入的必要性
夹具引入的寄生效…
06
去嵌入基本概念
定义 · 目标 · 与校准的区别
去嵌入基本概念
定义
07
二端口去嵌入模型
串联-并联模型 · T型/π型等效电路 · 级联网络表示
二端口去嵌入模型
串联
08
常用去嵌入方法概览
Open-Short · Through-Line · TRL
常用去嵌入方法概…
Open-Short
09
Open-Short去嵌入方法
Open和Short标准件测量 · 公式推导 · 优缺点及适用频率
Open-Short
去嵌入方法
10
Through-Line去嵌入方法
直通标准件 · 传输线模型 · 误差项提取
Through-Line
去嵌入方法
11
TRL去嵌入方法
Thru-Reflect-Line原… · 参考平面定义 · 多线TRL
TRL
去嵌入方法
12
LRM与LRRM方法
Line-Reflect-Match · 改进型LRM · 适用于非理想夹具
LRM
LRRM
13
去嵌入软件工具
常用EDA工具(如Keysight · Ansys · Cadence)中的去嵌入模块
去嵌入软件工具
EDA
14
VNA测试夹具设计要点
夹具的阻抗匹配 · 传输线设计 · 接地与屏蔽
VNA
测试夹具设计要点
15
探针台与射频探针
探针类型(GSG · GSSG) · 接触电阻
探针台
射频探针
16
去嵌入流程实战
从DUT设计 · 夹具制造 · S参数测量到去嵌入后数据处理的完整步…
去嵌入流程实战
DUT
17
案例1
片上电感测试夹具去嵌入 · 结果对比与误差分析
案例1
片上电感测试夹具…
18
案例2
射频放大器芯片测试:TRL去嵌入 · 增益与噪声系数测量中的去嵌入影响
案例2
TRL
19
案例3
毫米波芯片版图验证 · 去嵌入挑战与解决方案
案例3
毫米波芯片版图验…
20
去嵌入中的误差来源
测量噪声 · 标准件不理想 · 夹具重复性
去嵌入
误差来源
21
去嵌入结果验证
如何判断去嵌入是否成功 · 与仿真对比 · 重复性测试
去嵌入结果验证
如何判断去嵌入是…
22
多端口去嵌入
四端口及以上(如差分 · 平衡器件)的去嵌入方法 · 混合模式S参数
多端口去嵌入
四端口
23
去嵌入与版图寄生提取的协同
版图寄生参数(RLC)提取与去嵌入结…
去嵌入
版图寄生提取的协…
24
自动化去嵌入流程
脚本编写(Python/MATLAB… · 批量处理 · 与VNA控制集成
自动化去嵌入流程
Python/MATLA…
25
常见问题与解决
去嵌入后S参数异常(如增益大于1) · 相位不连续 · 标准件失效等
常见问题
解决
26
去嵌入的行业标准与规范
IPC · IEEE相关标准 · 企业测试规范
去嵌入的行业标准
规范
27
高级主题
太赫兹频段去嵌入 · 低温测试 · 晶圆级可靠性测试中的去嵌入
高级主题
太赫兹频段去嵌入
28
综合实战项目
设计一个完整去嵌入流程 · 从夹具设计到最终报告 · 包括数据分析和优化
综合实战项目
设计一个完整去嵌…
29
课程总结与知识体系梳理
核心要点回顾 · 常见误区 · 学习路径建议
课程总结
知识体系梳理
30
考核与进阶
模拟测试题 · 实操任务 · 推荐阅读与进阶课程方向
考核
进阶
所属VIP或分类
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