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测试测量质量可靠性工程
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014-测试夹具、去嵌与测量参考面工程
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《TDR夹具效应、去嵌与阻抗测量工程》
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本课程属于:014-测试夹具、去嵌与测量参考面工程
测试测量质量可靠性工程 · 共 13 门相关课程,组合学习更完整。
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TDR去嵌测量夹具影响教程
共计 30 章节
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01
TDR测量原理简介
TDR基本概念 · 反射与传输理论 · 阻抗计算
TDR
测量原理简介
02
夹具对TDR测量的影响概述
寄生电感 · 寄生电容 · 传输线效应
TDR
夹具对
03
传输线基础
特性阻抗 · 传播常数 · 反射系数
传输线基础
特性阻抗
04
阻抗不连续点的响应分析
阶跃响应 · 上升时间 · 阻抗变化
阻抗不连续点的响…
阶跃响应
05
时域反射计硬件组成
信号源 · 采样头 · 显示器
时域反射计硬件组…
信号源
06
TDR校准方法
开路 · 短路 · 负载校准
TDR
校准方法
07
去嵌的基本概念
什么是去嵌 · 为什么需要去嵌
去嵌的基本概念
什么是去嵌
08
常见去嵌算法
TRL去嵌 · LRM去嵌 · SOLT去嵌
常见去嵌算法
TRL
09
TRL去嵌原理
直通 · 反射 · 线标准
TRL
去嵌原理
10
LRL去嵌方法
线-反射-线标准
LRL
去嵌方法
11
两端口去嵌流程
测量夹具S参数 · 计算归一化
两端口去嵌流程
测量夹具S参数
12
多端口去嵌技术
差分对去嵌 · 多端口校准
多端口去嵌技术
差分对去嵌
13
夹具模型提取
集总元件模型 · 分布参数模型
夹具模型提取
集总元件模型
14
使用VNA测量夹具特性
S参数测量 · 去嵌因子提取
VNA
使用
15
频域去嵌与时域去嵌对比
优缺点 · 适用场景
频域去嵌
时域去嵌对比
16
时域门控技术
时间窗函数 · 选通原理
时域门控技术
时间窗函数
17
去嵌的数学原理
ABCD矩阵 · T矩阵转换
去嵌的数学原理
ABCD
18
去嵌误差分析
校准件误差 · 测量噪声 · 连接重复性
去嵌误差分析
校准件误差
19
手动去嵌步骤
数据采集 · 阻抗变换 · 数学处理
手动去嵌步骤
数据采集
20
自动去嵌流程
软件工具介绍 · 脚本实现
自动去嵌流程
软件工具介绍
21
差分TDR测量中的去嵌
共模与差模分析
TDR
差分
22
探针夹具去嵌方法
探针寄生影响 · 去嵌校准片
探针夹具去嵌方法
探针寄生影响
23
连接器及插座夹具去嵌
SMA · BNC等连接器模型
连接器
插座夹具去嵌
24
高频PCB走线特性阻抗测量中的去嵌
微带线 · 带状线
PCB
高频
25
芯片封装测试中的去嵌
BGA封装 · 引线键合
芯片封装测试
去嵌
26
去嵌验证方法
回损 · 插损对比 · 仿真验证
去嵌验证方法
回损
27
案例分析
PCIe链路阻抗测试去嵌
案例分析
PCIe
28
案例分析
DDR内存通道TDR测量去嵌
案例分析
DDR
29
案例分析
RF模块测试夹具去嵌
案例分析
RF
30
总结与展望
去嵌技术发展趋势 · 常见问题
去嵌技术发展趋势
常见问题
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