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《射频芯片S参数测试、校准与去嵌入教程》
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射频芯片S参数测试、校准与去嵌入教程
共计 30 章节
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01
课程导入
学习目标 · 适用人群 · 课程整体框架与学习路径
课程导入
学习目标
02
射频测试基础
射频概念 · S参数定义 · 传输线理论
射频测试基础
射频概念
03
S参数核心概念
S11 · S21 · S12
S参数核心概念
S11
04
射频芯片测试环境
测试仪器(VNA · 探针台 · 夹具)
射频芯片测试环境
VNA
05
矢量网络分析仪(VNA)原理
信号源 · 接收机 · 测量路径
VNA
矢量网络分析仪
06
S参数测试流程
测试准备 · DUT连接 · 参数设置
S参数测试流程
测试准备
07
校准基础
为什么要校准 · 校准类型(响应校准 · 全双端口校准)
校准基础
为什么要校准
08
SOLT校准方法
短路 · 开路 · 负载
SOLT
校准方法
09
TRL校准方法
直通 · 反射 · 传输线校准原理
TRL
校准方法
10
电子校准(ECal)
原理 · 操作流程 · 与传统校准的对比
ECal
电子校准
11
校准误差分析
校准后残余误差 · 漂移 · 连接重复性
校准误差分析
校准后残余误差
12
去嵌入概念
什么是去嵌入 · 为什么需要去嵌入 · 与校准的区别与联系
去嵌入概念
什么是去嵌入
13
去嵌入数学模型
级联网络 · ABCD矩阵 · S参数转换
去嵌入数学模型
级联网络
14
常用去嵌入方法
开路-短路法(Open-Short) · 直通-反射法(Thru-Reflec… · L-2L法
常用去嵌入方法
Open-Short
15
去嵌入夹具设计
测试夹具结构 · 寄生效应 · 地弹
去嵌入夹具设计
测试夹具结构
16
探针台测试与去嵌入
射频探针类型 · 探针校准 · 探针接触重复性
探针台测试
去嵌入
17
去嵌入软件工具
常用软件(如Keysight · Ansys · 开源工具)
去嵌入软件工具
Keysight
18
案例实战
使用VNA测量一个射频放大器芯片的S… · 完成SOLT校准与去嵌入
案例实战
VNA
19
案例实战
使用TRL校准与去嵌入测量微带线夹具…
案例实战
TRL
20
案例实战
片上探针测试中 · 使用Open-Short去嵌入提取晶…
案例实战
片上探针测试
21
案例实战
差分射频芯片的S参数测试(混合模式S…
案例实战
差分射频芯片的S…
22
常见问题与调试
校准失败 · 去嵌入结果异常 · 测量不稳定
常见问题
调试
23
精度提升技巧
提高校准质量 · 优化去嵌入模型 · 减少测量噪声
精度提升技巧
提高校准质量
24
S参数测试中的射频安全与规范
功率限制 · ESD防护 · 仪器保护
S参数测试
射频安全
25
自动化测试与数据管理
使用SCPI控制VNA · 批量测试 · 数据格式(Touchstone)
自动化测试
数据管理
26
高级主题
多端口S参数测试 · 平衡器件测试 · 时域反射(TDR)与S参数关系
高级主题
多端口S参数测试
27
去嵌入的局限性与替代方案
模型误差 · 频带限制 · 替代方法(如电磁仿真)
去嵌入的局限性
替代方案
28
综合项目
设计一个完整的射频芯片S参数测试方案 · 包括校准 · 去嵌入
综合项目
设计一个完整的射…
29
课程总结
核心知识点回顾 · 常见误区 · 学习资源推荐
课程总结
核心知识点回顾
30
结课考核
理论测试与实操任务 · 评估学员对S参数测试 · 校准与去嵌入的掌握程度
结课考核
理论测试
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