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008-半导体流程管理

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20门 系列课程
半导体工艺与制造设备 所属方向
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01
《Mask设计阶段失效分析与工艺验证联合课程》
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02
《Mask设计阶段工艺匹配与产线导入联合调试》
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03
《Mask设计阶段批次管理与故障定位联合调试》
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04
《参数调试与批次管理协同工艺验证阶段应用》
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05
《参数调试在产线导入阶段的性能调优课程》
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06
《参数调试在工艺流片阶段的故障排查工程实践》
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07
《参数调试在工艺验证阶段的性能调优工程案例》
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08
《失效分析根因追溯与参数调试协同工程案例》
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09
《工艺优化与Mask设计协同在线监控参数配置与工程调优》
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10
《工艺优化与Mask设计协同失效分析回溯方法》
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11
《工艺流片阶段参数调试与故障定位联合策略》
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12
《工艺流片阶段在线监控与参数调试协同配置》
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13
《工艺流片阶段测试结构与故障定位联合调试》
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14
《工艺验证与在线监控协同参数调试工程实践》
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15
《工艺验证与在线监控协同故障定位工程案例》
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16
《工艺验证中失效分析与参数调试根因追溯方法》
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17
《工艺验证中批次管理与参数调试联合调试》
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18
《批次管理中Mask设计与工艺验证协同课程》
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19
《批次管理中参数调试与工艺验证联合策略》
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20
《测试结构设计在工艺验证阶段的性能调优课程》
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