01
杂散光概论
什么是杂散光、杂散光的危害、杂散光评价的重要性、课程总体框架。
基础概念
02
基础光学原理回顾
几何光学基础、物理光学基础、辐射度学与光度学基础、关键光学参数。
几何光学辐射度学
03
杂散光来源分析
系统内部散射源、系统外部杂散光源、结构件反射与衍射、热辐射杂散光。
散射源热辐射
04
关键光学表面特性
表面散射模型（BRDF/BSDF）、表面粗糙度与散射、表面污染与散射、镀膜对散射的影响。
BRDF粗糙度
05
BRDF/BSDF 理论与测量
BRDF/BSDF 定义、物理意义、常见模型（Harvey-Shack, ABg, Phong）、测量方法与设备。
模型测量
06
杂散光传播路径
直接路径、一次散射路径、多次散射路径、鬼像路径、路径分类与识别方法。
路径鬼像
07
鬼像分析
鬼像形成机理、双面反射模型、鬼像能量计算、鬼像抑制策略。
鬼像抑制
08
遮光罩设计原理
遮光罩的作用、设计原则、一级遮光罩、二级遮光罩、挡光环设计。
遮光罩挡光环
09
挡光环设计方法
挡光环的几何参数、位置优化、渐晕控制、设计实例。
优化渐晕
10
光阑与孔径设计
孔径光阑、视场光阑、Lyot 光阑、冷光阑、光阑对杂散光的抑制。
光阑抑制
11
表面处理与涂层技术
黑色涂层、漫反射涂层、吸光材料、表面纹理化处理、涂层选择指南。
涂层吸光
12
结构件杂散光抑制
镜筒内壁处理、隔圈与压圈设计、遮光罩与挡光环集成、螺纹与缝隙处理。
结构抑制
13
光学系统杂散光评价指标
点源透过率（PST）、杂散光系数（VGI）、鬼像相对强度、信杂比（SCR）。
PSTVGI
14
PST 计算方法与仿真
PST 定义、仿真设置、关键参数提取、PST 曲线解读。
仿真PST
15
杂散光仿真软件介绍
主流软件对比（TracePro, FRED, Zemax, LightTools）、软件选型建议、基本仿真流程。
软件对比
16
TracePro 仿真实战
软件界面、光源设置、表面属性设置、探测器设置、光线追迹与结果分析。
TracePro实战
17
FRED 仿真实战
软件界面、脚本化建模、相干与非相干分析、高级散射模型应用。
FRED脚本
18
Zemax 非序列模式杂散光分析
非序列模式介绍、光源与物体导入、散射与鬼像分析、与序列模式结合。
Zemax非序列
19
LightTools 杂散光分析
照明与杂散光模块、接收器设置、路径分析工具、优化功能。
LightTools路径
20
蒙特卡洛光线追迹方法
蒙特卡洛方法原理、采样策略、收敛性判断、误差控制。
蒙特卡洛误差
21
杂散光实验测量方法
暗室搭建、光源与探测器选择、PST 测量装置、VGI 测量方法、测量不确定度分析。
实验测量
22
杂散光测试数据处理
数据平滑、背景扣除、归一化处理、误差棒计算、结果报告。
数据处理报告
23
典型光学系统杂散光分析（一）
折射式望远镜系统、反射式望远镜系统、折反式系统。
望远镜折反
24
典型光学系统杂散光分析（二）
显微成像系统、投影光刻系统、激光雷达系统。
显微光刻
25
典型光学系统杂散光分析（三）
红外热成像系统、星敏感器、光谱仪系统。
红外星敏感器
26
杂散光抑制设计流程
需求分析、初步设计、详细仿真、实验验证、迭代优化、设计冻结。
流程迭代
27
杂散光评价报告撰写
报告结构、关键图表、数据呈现、结论与建议、评审要点。
报告评审
28
杂散光评价中的常见陷阱
仿真与实验偏差、模型简化误差、材料数据不准确、边界条件设置错误。
陷阱偏差
29
前沿技术与未来趋势
机器学习在杂散光预测中的应用、新型吸光材料、超表面杂散光抑制、在轨校准技术。
前沿超表面
30
综合案例实战
从需求到交付的全流程杂散光评价，涵盖设计、仿真、测试、优化全环节。
实战全流程